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高精度的機器設(shè)備對于現(xiàn)代化工廠來說，是重要的，采購在選擇的時候會考慮很多因素，對于生產(chǎn)制造而言，設(shè)備的質(zhì)量好，適合生產(chǎn)要求，可以極大的提高企業(yè)工作效率，提高產(chǎn)能，并且對企業(yè)發(fā)展起到一定的推動作用，所以，采購在設(shè)備的選擇購買上一般都會很慎重。既然這樣，像光學(xué)膜厚儀這類光學(xué)高精度儀器，如何選擇適合自己企業(yè)生產(chǎn)的機臺？但是，市場上，經(jīng)銷商那么多，各種型號，諸多選擇，人們就會很困擾，如何選擇。那么就以我們優(yōu)尼康為例，和大家說一說如何選擇，給大家起到一個參考作用。優(yōu)尼康科技有限公司是一...

膜厚儀作為一種測量膜層厚度的儀器，在很多的行業(yè)領(lǐng)域都得到了廣泛的應(yīng)用，尤其是光學(xué)膜厚儀，因為測量精度高、非接觸方、無須破壞樣品等優(yōu)點，受到眾多企業(yè)用戶和高校老師的喜愛，今天主要對光學(xué)膜厚儀做個簡單了解。光學(xué)膜厚儀的優(yōu)點1.非接觸式測量光學(xué)膜厚儀采用的原理是通過光的反射原理對膜層厚度進行測量，屬于非接觸式測量方法，不會對樣品造成任何損傷，能夠樣品的完整性。2.測量數(shù)據(jù)多樣可以測得物體的膜厚度和n，k數(shù)據(jù)，這是其它類型的膜厚儀所不具備的特點。3.測量快速光學(xué)膜厚儀的測量過程非常快...

臺階儀（探針式表面輪廓儀）是一項創(chuàng)新性的設(shè)計，可以提供更高的重復(fù)性和分辨率。臺階儀這項性能的提高達到了過去四十年Dektak技術(shù)創(chuàng)新的，更加鞏固了其行業(yè)地位。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測量，通過在研究工作中的廣泛使用，臺階儀一定能夠做到功能更強大，操作更簡易，檢測過程和數(shù)據(jù)采集更完善。臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，使納米尺度的表面輪廓測量成為可能，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件，半導(dǎo)體，電池，高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域。臺階儀具備高精度、方便使用、作用強等優(yōu)勢...

1、無損檢測手持式合金分析儀無損檢測與破壞性檢測方法不同，樣品在整個測試過程中無任何損壞。2、特殊構(gòu)造采用堅韌的LEXAN，塑料密封外殼，重量輕，堅固耐用；密封式一體化設(shè)計，防塵、防水、防腐蝕，可在任何地方安全使用。3、性能精度高，實驗室級的分析水平，可直觀顯示合牌號和元素百分比含量(某些元素可顯示到小數(shù)點后三位)及ppm含量。速度快，操作簡單“開機啟動—瞄準(zhǔn)測試—察看結(jié)果”，整個分析過程僅需數(shù)秒便可完成，合牌號鑒別只需1~2秒鐘，操作簡單，即使非技術(shù)人員也可輕松掌握。4、靈...

1.ZSI：剪切干涉測量技術(shù)提供z向高分辨率圖像。2.ZFT：使用集成寬帶反射計測量膜厚度和反射率。3.AOI：自動光學(xué)檢測，并對樣品上的缺陷進行量化。4.ZXI：白光干涉測量技術(shù)，適用于z向分辨率高的廣域測量。5.ZDot：同時采集高分辨率3D數(shù)據(jù)和TrueColor（真彩）無限遠焦點圖像。6.ZIC：干涉對比度，適用于亞納米級別粗糙度的表面并提供其3D定量數(shù)據(jù)。7.生產(chǎn)能力：通過測序和圖案識別實現(xiàn)全自動測量。8.光學(xué)輪廓儀可用于樣品復(fù)檢或缺陷檢測的高質(zhì)量顯微鏡。9.采用Z...

橢偏儀的成像技術(shù)為超小塊的電影分析和原位橢圓偏振儀測量，流體環(huán)境橢偏測量分析，可以實現(xiàn)結(jié)合各種技術(shù)，例如布儒斯特角鏡、表面等離子體共振、原子力顯微鏡和石英晶體微天平儀器、磅槽、反射光譜法和太赫茲光譜、拉曼光譜和更多的研究人員使用。這些新的功能，擴展產(chǎn)品的橢偏法的應(yīng)用領(lǐng)域。橢偏光學(xué)顯微技術(shù)帶來新的研究也構(gòu)成的技術(shù)，例如在非測量液膜的穩(wěn)定性和顯微成像面上的挑戰(zhàn)等。橢偏儀應(yīng)用廣泛在線監(jiān)測薄膜的厚度，對成品率無疑至關(guān)重要。然而保鮮膜在傳送帶上的速度堪比百米飛人博爾特，檢測時間又以秒計...