膜厚儀作為一種測(cè)量膜層厚度的儀器，在很多的行業(yè)領(lǐng)域都得到了廣泛的應(yīng)用，尤其是光學(xué)膜厚儀，因?yàn)闇y(cè)量精度高、非接觸方、無(wú)須破壞樣品等優(yōu)點(diǎn)，受到眾多企業(yè)用戶和高校老師的喜愛，今天主要對(duì)光學(xué)膜厚儀做個(gè)簡(jiǎn)單了解。

<1>光學(xué)膜厚儀的優(yōu)點(diǎn)

　　1.非接觸式測(cè)量

　　光學(xué)膜厚儀采用的原理是通過光的反射原理對(duì)膜層厚度進(jìn)行測(cè)量，屬于非接觸式測(cè)量方法，不會(huì)對(duì)樣品造成任何損傷，能夠樣品的完整性。

　　2.測(cè)量數(shù)據(jù)多樣

　　可以測(cè)得物體的膜厚度和n，k數(shù)據(jù)，這是其它類型的膜厚儀所不具備的特點(diǎn)。

　　3.測(cè)量快速

　　光學(xué)膜厚儀的測(cè)量過程非?？焖伲?yàn)樵撛O(shè)備采用了的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，能夠極大程度的提升測(cè)量效率，相比于其他類型膜厚測(cè)量設(shè)備來說顯得非常輕巧方便。

　　4.適用范圍廣

　　光學(xué)膜厚儀的適用范圍非常廣泛，從普通家用到工廠的工業(yè)生產(chǎn)，再到大學(xué)實(shí)驗(yàn)室和科學(xué)研究所，都可以看到它的身影，由此可見它的使用范圍廣泛，能夠作業(yè)的場(chǎng)合也變得更加多樣化。

<2>光學(xué)膜厚儀的使用注意事項(xiàng)

　　1.零點(diǎn)校準(zhǔn)

　　在每次使用膜厚儀之前需要進(jìn)行光學(xué)校準(zhǔn)，因?yàn)橹暗臏y(cè)量參數(shù)會(huì)影響該次對(duì)物體的測(cè)量，零點(diǎn)校準(zhǔn)可以消除前次測(cè)量有參數(shù)的影響，能夠降低測(cè)量的結(jié)果的誤差，使測(cè)量結(jié)果更加。

　　2.基體厚度不宜過薄

　　在使用光學(xué)膜厚儀對(duì)物體進(jìn)行測(cè)量時(shí)基體不宜過薄，否則會(huì)極大程度的影響儀器的測(cè)量精度，造成數(shù)據(jù)結(jié)果不，影響測(cè)量過程的正常進(jìn)行。

　　3.物體表面粗糙程度

　　對(duì)于被測(cè)物體的表面不宜太過粗糙，因?yàn)榇植诘谋砻嫒菀滓鸸獾难苌?，降低了光學(xué)膜厚儀的測(cè)量精度，造成很大的誤差。所以被測(cè)物體的表面應(yīng)該盡量保持光滑，以測(cè)量結(jié)果的性。

　　有關(guān)于光學(xué)膜厚儀的優(yōu)勢(shì)以及使用注意事項(xiàng)在上面的內(nèi)容中已經(jīng)跟大家做了一個(gè)具體的介紹，如果想對(duì)光學(xué)膜厚儀有進(jìn)一步的了解請(qǐng)聯(lián)系我們，可和我們工程師一對(duì)一溝通交流。