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XRF鍍層測厚儀主要應(yīng)用于：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。XRF鍍層測厚儀的測量工作原理：1、磁性測厚法：適用導磁材料上的非導磁層厚度測量。導磁材料一般為:鋼鐵銀鎳。此種方法測量精度高（如：鐵等磁性材料）2、渦流測厚法：渦流測量原理是高頻交流信號在測頭線圈中產(chǎn)生電磁場，測頭靠近導體時，就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。與磁感應(yīng)測厚法一樣，渦流測厚法也達到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程1...

XRF手持式合金分析儀在金屬制造行業(yè)中，材料、半成品、成品的質(zhì)量與質(zhì)量控制（QA/QC）是*的，混料或使用不合格材料必給企業(yè)帶來損失。XRF手持式合金分析儀被廣泛用于從小型金屬材料加工廠到大型的飛機的各種制造業(yè)。已成為質(zhì)量體系中材料確認、半成品檢驗、成品復檢的儀器。XRF手持式合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術(shù)，可用于確認物質(zhì)里的特定元素，同時將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長(λ)及能量(E)確定具體元素，而通過測量相應(yīng)射線的密度來確定此元素的量。如此一來，XRF度普術(shù)...

光學膜厚測量儀采用的是一種XRF光譜分析技術(shù)，X光管產(chǎn)生的X射線打到被測樣品時可以擊出原子的內(nèi)層電子，出現(xiàn)殼層空穴，當外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時，就會產(chǎn)生特征X射線。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。使用光學膜厚測量儀的注意事項有以下三點：一、注意保持試件表面的清潔和平整的光學膜厚測量儀是一個非常精密的儀器，如果我們要想我們的測量數(shù)據(jù)能夠保持的話，就要保持試件表面的清潔，及時的處理掉試件表面的附...

XRF手持式合金分析儀是用于測量合金材料、金屬材料和其它材料的成分的，但你了解手持式合金分析儀還能用于測量鍍層厚度嗎？手持式合金光譜儀分析儀可測量金屬材料、塑膠、玻璃甚至是木料鍍層的厚度。優(yōu)勢一：超長的運行時間，彌補野外勘測設(shè)備弊端XRF手持式合金分析儀運行時間很長，設(shè)備耗電量較低，非常適合在實驗室以外的場地進行檢測，有效避免在檢測過程中電量不足導致實驗中斷的現(xiàn)象發(fā)生，彌補了大多數(shù)合金分析儀續(xù)航時間短這一共性缺陷。XRF手持式合金分析儀重量僅有1.54公斤，這一特性也讓它在野...

XRF鍍層測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供、快速的分析?；谖④浿形囊暣跋到y(tǒng)的中文版應(yīng)用軟件包，實現(xiàn)了對CMI主機的自動化控制，分析中不需要任何手動調(diào)整或手動參數(shù)設(shè)定?？赏瑫r測定多種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足特定分析報告格式要求；如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、大值、小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏...

薄膜厚度測量儀可無損地測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性涂層的厚度（如鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導電覆層的厚度。涂鍍層測厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點，是控制和產(chǎn)品質(zhì)量*的檢測儀器，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。1、薄膜厚度測量儀基體金屬磁性質(zhì)磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使...