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XRF手持式合金分析儀是一種采用光譜儀技術(shù)分析金屬成分含量的儀器。壓力容器是一種能在不同環(huán)境壓力下容納氣體或液體的容器，是工業(yè)和石化加工廠中重要的部件之一，其構(gòu)成材料有單元熱交換器、反應(yīng)器、儲(chǔ)存容器、柱子、分離容器等。壓力容器的質(zhì)量、性能往往與其所用材料有關(guān)，因此，材料的選用很重要，材料的檢測(cè)也非常重要。XRF手持式合金分析儀特點(diǎn)：真正實(shí)現(xiàn)在現(xiàn)場(chǎng)對(duì)被檢材料進(jìn)行*無損的快速檢測(cè)儀器無需外接PDA.一體化程度更高，抗電腦病毒、防塵防水能力強(qiáng)，操作便捷可選購(gòu)藍(lán)牙（Bluetooth...

XRF手持式合金分析儀主要用于現(xiàn)場(chǎng)，無損，快速，分析檢測(cè)合金元素和合號(hào)的識(shí)別，在金屬制造行業(yè)中，材料、半成品、成品的質(zhì)量與質(zhì)量控制（QA/QC）是*的，混料或使用不合格材料必給企業(yè)帶來損失，因此本產(chǎn)品的出現(xiàn)正好解決了這些問題。XRF手持式合金分析儀的正確使用流程如下：1、使用前認(rèn)真閱讀本設(shè)備操作使用規(guī)程或使用說明書，仔細(xì)檢查儀器表面，如發(fā)現(xiàn)有明顯破損或異?，F(xiàn)象應(yīng)立即更換。2、使用該設(shè)備時(shí)應(yīng)正確佩戴設(shè)備防護(hù)腰帶，手握設(shè)備時(shí)應(yīng)先把防滑帶套入手腕，以防設(shè)備損壞。3、測(cè)量前應(yīng)被測(cè)面露...

XRF手持式合金分析儀主要用于鋼鐵、石化、電力、醫(yī)藥等領(lǐng)域金屬材料中元素成分的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)定。隨著世界經(jīng)濟(jì)的崛起，它是快速識(shí)別零部件的工具。合金分析儀可以定量分析元素周期表中90%以上的元素，從鎂到較重的元素。這些可測(cè)量的元素涵蓋了我們商業(yè)開發(fā)和合金中使用的大多數(shù)傳統(tǒng)元素。XRF手持式合金分析儀使用的的測(cè)試x光熒光分析儀技術(shù)能力的方法，可以根據(jù)獲得材料的主要成分信息，獲得鋁合金、不銹鋼、鉻鉬合金、多管和法蘭材料。很多公司都是基于這些合金、青銅合金等材料。金屬檢測(cè)方面越來越多的用到手...

手持式合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術(shù)，可用于確認(rèn)物質(zhì)里的特定元素，同時(shí)將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長(zhǎng)（λ）及能量（E）確定具體元素，而通過測(cè)量相應(yīng)射線的密度來確定此元素的量。如此一來，XRF度普術(shù)就能測(cè)定物質(zhì)的元素構(gòu)成。手持式合金分析儀是基于X射線理論而誕生的，它主要用于軍工、航天、鋼鐵、石化、電力、制藥等領(lǐng)域金屬材料中元素成份的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)定。是伴隨世界經(jīng)濟(jì)崛起的工業(yè)和軍事制造領(lǐng)域的快速成份鑒定工具。每一個(gè)原子都有自己固定數(shù)量的電子（負(fù)電微粒）運(yùn)行在核子周圍的軌道上。...

光學(xué)輪廓儀是一款非常精密的檢測(cè)儀器，它可以檢測(cè)工件的粗糙度，并且數(shù)據(jù)十分。高精度輪廓儀是對(duì)物體的輪廓、二維尺寸、二維位移進(jìn)行測(cè)試與檢驗(yàn)的儀器，作為精密測(cè)量?jī)x器在汽車制造和鐵路行業(yè)的應(yīng)用十分廣泛。光學(xué)輪廓儀通過對(duì)被測(cè)物進(jìn)行缺陷檢測(cè)，實(shí)現(xiàn)了被測(cè)物件的在線連續(xù)式缺陷檢測(cè)，及時(shí)的防止帶缺陷的軋材進(jìn)入下一生產(chǎn)環(huán)節(jié)，提高了被測(cè)物的成品率和檢測(cè)效率。光學(xué)輪廓儀具備四只二維激光測(cè)量傳感器，每只二維激光傳感器負(fù)責(zé)檢測(cè)一個(gè)方位的輪廓情況，四只傳感器*可以滿足軋材的同一截面的輪廓檢測(cè)，這樣隨著被測(cè)...

膜厚儀做為一種測(cè)量物體厚度的儀器，在很多的行業(yè)領(lǐng)域都得到了廣泛的應(yīng)用，尤其是涂層測(cè)厚儀，擁有測(cè)量精度高，利用探頭接觸測(cè)量方式的優(yōu)點(diǎn)。光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時(shí)產(chǎn)生低能量的光子，俗稱為二次熒光，在通過計(jì)算二次熒光的能量來計(jì)算厚度值。光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x的使用注意事項(xiàng)：1.零點(diǎn)校準(zhǔn)在每次使用膜厚儀之前需要進(jìn)行光學(xué)校準(zhǔn)，因?yàn)橹暗臏y(cè)量參數(shù)會(huì)影響該次對(duì)物體的測(cè)量，零點(diǎn)校準(zhǔn)可以消除前次測(cè)量有參數(shù)的影響，能夠降低測(cè)量的結(jié)果的誤差，使測(cè)量結(jié)果更加。2.基體厚度不宜過薄在使用...