薄膜厚度測量儀的優(yōu)點和使用注意事項是什么？
2020-04-16
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薄膜厚度測量儀作為一種測量膜層厚度的儀器，在很多的行業(yè)領(lǐng)域都得到了廣泛的應(yīng)用，尤其是薄膜厚度測量儀，因為測量精度高、非接觸方、無須破壞樣品等優(yōu)點，受到眾多企業(yè)用戶和高校老師的喜愛，今天主要對薄膜厚度測量儀做個簡單介紹。
一、薄膜厚度測量儀的優(yōu)點
1、非接觸式測量
薄膜厚度測量儀采用的原理是通過光的反射原理對膜層厚度進行測量，屬于非接觸式測量方法，不會對樣品造成任何損傷，能夠樣品的完整性。
2、測量數(shù)據(jù)多樣
可以測得物體的膜厚度和n，k數(shù)據(jù)，這是其它類型的膜厚儀所不具備的特點。
3、測量快速
薄膜厚度測量儀的測量過程非?？焖?，因為該設(shè)備采用了的結(jié)構(gòu)設(shè)計，能夠極大程度的提升測量效率，相比于其他類型膜厚測量設(shè)備來說顯得非常輕巧方便。
4、適用范圍廣
薄膜厚度測量儀的適用范圍非常廣泛，從普通家用到工廠的工業(yè)生產(chǎn)，再到大學(xué)實驗室和科學(xué)研究所，都可以看到它的身影，由此可見它的使用范圍廣泛，能夠作業(yè)的場合也變得更加多樣化。
二、薄膜厚度測量儀的使用注意事項
1、零點校準(zhǔn)
在每次使用膜厚儀之前需要進行光學(xué)校準(zhǔn)，因為之前的測量參數(shù)會影響該次對物體的測量，零點校準(zhǔn)可以消除前次測量有參數(shù)的影響，能夠降低測量的結(jié)果的誤差，使測量結(jié)果更加。
2、基體厚度不宜過薄
在使用薄膜厚度測量儀對物體進行測量時基體不宜過薄，否則會極大程度的影響儀器的測量精度，造成數(shù)據(jù)結(jié)果不，影響測量過程的正常進行。
3、物體表面粗糙程度
對于被測物體的表面不宜太過粗糙，因為粗糙的表面容易引起光的衍射，降低了薄膜厚度測量儀的測量精度，造成很大的誤差。所以被測物體的表面應(yīng)該盡量保持光滑，以測量結(jié)果的性。
