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3D光學(xué)輪廓儀是一種用于材料科學(xué)、電子與通信技術(shù)領(lǐng)域的分析儀器。它是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D建模算法等對器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析，并獲取反映器件表面...

XRF手持式合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術(shù)，可用于確認(rèn)物質(zhì)里的特定元素，同時將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長(λ)及能量(E)確定具體元素，而通過測量相應(yīng)射線的密度來確定此元素的量。如此一來，XRF度普術(shù)就能測定物質(zhì)的元素構(gòu)成。下...

光學(xué)薄膜厚度測量儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。它以PLC和工業(yè)計算機(jī)為核心，采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)，對板材厚度進(jìn)行自動控制。光...

光學(xué)3d表面輪廓儀不僅僅是用于零部件的檢測，還有一種可用于生產(chǎn)線上對生產(chǎn)中的軋材表面缺陷進(jìn)行檢測的設(shè)備，它以激光檢測原理完成了缺陷尺寸的在線檢測。光學(xué)3d表面輪廓儀通過對被測物進(jìn)行缺陷檢測，實(shí)現(xiàn)了被測物件的在線連續(xù)式缺陷檢測，及時的防止帶缺...

薄膜厚度測量儀又叫膜厚儀、膜厚測試儀、膜厚計或者鍍層測厚儀（比如GT810F、GT810NF、GT8102等），可無損地測量磁性金屬基體（如：鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性涂層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等），以及非磁性金屬基...

優(yōu)尼康科技有限公司自2012年成立，一直專注于薄膜厚度與表面輪廓測量領(lǐng)域，為半導(dǎo)體、面板、LED、消費(fèi)電子、生物醫(yī)療等高科技企業(yè)和高校及研發(fā)中心提供精密測量設(shè)備與解決方案。本次講座，優(yōu)尼康將邀請多位行業(yè)，結(jié)合各行業(yè)應(yīng)用案例，與您探討在微納級...