博曼BOWMAN高精度鍍層測量儀
簡要描述：美國博曼K系列XRF高精度涂層測量系統(tǒng)，具備12英寸×12英寸的測量區(qū)域，適用于多種樣品檢測。
產(chǎn)品型號：K系列- 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間：2024-11-13
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產(chǎn)品詳情
美國博曼（Bowman）K系列 XRF 高精度涂層測量系統(tǒng)
K 系列是客戶測量各種樣品的理想之選，在高度不超過9英寸（228 mm）的工件上具有優(yōu)于同類產(chǎn)品的12英寸（304 mm）×12英寸（304mm）可測量區(qū)域。自動(dòng)多準(zhǔn)直器允許選擇光斑尺寸，以適應(yīng)各種特征尺寸；可變焦攝像頭允許在 0.25 英寸到 3.5英寸的焦距范圍內(nèi)進(jìn)行測量。
配置
K 系列的標(biāo)準(zhǔn)配置包括一個(gè)4位（4、8、12和24mil）多重準(zhǔn)直器；
可選尺寸為2x2 mil 至60mil。可變焦距便于在凹陷區(qū)域進(jìn)行測量。
同服電機(jī)驅(qū)動(dòng)的可編程平臺可通過可選的 xyz程序進(jìn)行零件測量。
程序可使用模式匹配和自動(dòng)對焦來確保精確測量。
與所有 Bowman XRF 系統(tǒng)一樣，K系列配備了標(biāo)準(zhǔn)的硅漂移探測器（SDD）和長壽命微聚焦×射線管。
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