薄膜厚度測量儀是針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計的一款新型儀器。主要應用于：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。它是電鍍產(chǎn)品的重要技術(shù)指標，關(guān)系到產(chǎn)品的質(zhì)量以及生產(chǎn)成本。

　　膜厚儀原理：

　　磁性測厚法是利用被測試樣與標準磁體之間的吸引力的變化來轉(zhuǎn)換成鍍層的厚度。這種方法只能適用于對磁性能敏感的基體上的非磁性鍍層，如鋼鐵基體上的銅、鋅、錫等鍍層。鋼件上的鎳鍍層就不能很好地測量出結(jié)果。

　　磁性測厚法的優(yōu)點是對鋼鐵基體上的非磁性鍍層提供了一種快速的測量方法，其準確度可達85%-90%。測量樣件的粗糙度對測量結(jié)果有影響。如果被測件的基體很薄時，比如樣片厚度低于0.25mm時，會有較大測量誤差，這時可以在樣片后另加一個與基體材料相同的厚一些的無鍍層材料來減少誤差。

　　性能優(yōu)勢：

　　1、精密的三維移動平臺；

　　2、的樣品觀測系統(tǒng)；

　　3、圖像識別；

　　4、輕松實現(xiàn)深槽樣品的檢測；

　　5、四種微孔聚焦準直器，自動切換；

　　6、雙重保護措施，實現(xiàn)無縫防撞；

　　7、薄膜厚度測量儀采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度。